Kristal yapı iyileştirme yöntemleri
Dosyalar
Tarih
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Erişim Hakkı
Özet
Bu çalıĢmada, kristal yapıların X-ıĢınları kırınımı ile incelenmesi ve elde edilen parametrelerin iyileĢtirilmesi süreci araĢtırılmıĢtır. ÇalıĢmanın baĢlangıcında Kristalografi hakkında genel bilgiler verilmiĢ ve daha sonra parametrelerin iyileĢtirme adımlarının araĢtırılması yapılmıĢtır. Elektron yoğunluğu haritalarının çıkarılması ile atom konumlarının yerlerinin nasıl bulunduğu incelenmiĢtir. En Küçük Kareler Yöntemi ile atomik parametrelerin uygun değerlere getirilmesi süreci hakkında bilgi verilmiĢtir.
Crystal structure analysis by X- Ray diffraction method was studied in this thesis. Corrections of some datas from diffraction pattern were looked into. Initially some general information about Crystallography was given and then refinement of the parameters was studied. The search for obtaining Electron Density Map was done. And observation of the atomic positions in the model was studied. For fitting the parameters, The Least Square Method was searched.